Система тестов для определения характеристик производительности графических процессоров
Адинец А.В., Швец П.А.

Предложена система тестов для графических ускорителей. Созданные тесты позволяют измерять такие характеристики, как задержка и пропускная способность различных типов памяти, эффективность атомарных операций и размер кэш-линии. При помощи разработанного специального теста памяти показано, что когерентность оказывает значительно большее влияние на пропускную способность памяти, чем локальность. Статья рекомендована к печати Программным комитетом Международной суперкомпьютерной конференции "Научный сервис в сети Интернет: экзафлопсное будущее" (http://agora.guru.ru/abrau2011)

Ключевые слова: графические процессорные устройства, неоднородные вычислительные системы, атомарные операции

Название статьи, аннотация и ключевые слова на английском языке

Адинец А.В., мл. науч. сотр., e-mail: adinetz@gmail.com - Научно-исследовательский вычислительный центр, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Ленинские горы, д. 1, стр. 4, 119991, Москва;
Швец П.А,, студент, e-mail: shvets.pavel@gmail.com - Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, факультет вычислительной математики и кибернетики, Ленинские горы, 119991, Москва