Численное исследование устойчивости конечно-разностных схем с весами при моделировании переходных процессов в диодных силовых полупроводниковых структурах
Мещеряков С.А.

Представлены результаты исследований устойчивости конечно-разностных схем с весами, используемых при численном моделировании переходных процессов в диодных силовых полупроводниковых структурах в диффузионно-дрейфовом тепловом приближении с учетом паразитных и нагрузочных элементов. Показано, что при весе 0.5<ω<0.7 конечно-разностная схема для уравнений непрерывности в широком диапазоне значений шага по времени может быть неустойчивой с колебательным поведением решения.

Ключевые слова: моделирование, конечные разности, численные методы, полупроводниковые приборы, уравнение непрерывности, диффузия, дрейф

Название статьи, аннотация и ключевые слова на английском языке

Мещеряков С.А., ст. науч. сотр., e-mail: sam291074@yandex.ru - Государственный научно-исследовательский испытательный институт проблем технической защиты информации ФСТЭК России, ул. 9 Января, д. 280а, 394026, г. Воронеж