Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования FIFO-кэш-памяти микропроцессоров
Корныхин Е.В.

Рассматривается задача генерации начального состояния кэш-памяти для тестовых шаблонов, использующихся при системном функциональном тестировании процессоров. Обсуждается генерация тестовых данных для базисных способов организации кэш-памяти (полностью ассоциативный кэш и кэш прямого отображения), а также для кэш-памяти общего вида, сочетающей в себе характеристики этих двух типов кэш-памяти. Генерация начального состояния кэш-памяти осуществляется путем разрешения ограничений, составленных для тестового шаблона.

Ключевые слова: FIFO, ограничения, системное функциональное тестирование, тестовые шаблоны, тестовые программы

Е.В. Корныхин, аспирант, e-mail: kornevgen@gmail.com - Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, факультет вычислительной математики и кибернетики, Ленинские горы, 119992, Москва